半導體生產流程中，為維護產出品質、穩定良率，從Wafer、Die到Chip各階段皆耗費許多人力與時間進行品檢。品檢作業不僅拉長生產時程，更會因無法全檢和人工檢查的標準不一，而無法達到穩定品質、提升良率的最終目的。 AlphaDIS瑕疵檢驗系統是一套運用人工智慧協助所有半導體廠，從Wafer 、Die到Chip的全面瑕疵檢驗解決方案。半導體生產各階段流程中，因產品型態的改變，會有不同的瑕疵狀況產生，故所需檢測的瑕疵種類皆不盡相同。AlphaDIS瑕疵檢驗系統可針對IC生產的每個階段，透過人工智慧的學習進行全面品檢，找出有問題的部分，予以排除。同時將瑕疵狀況進行分類建檔，以利日後追蹤查詢。 AlphaDIS瑕疵檢驗系統有效運用人工智慧持續學習，提供穩定一致且不斷進步的檢測標準，把關品檢的第一道檢序，加速品檢時程，提高瑕疵檢出的正確率，穩定產品品質，提升良率。是一套完整的半導體生產智慧瑕疵檢驗解決方案。

AlphaDIS是一套運用人工智慧協助半導體廠進行瑕疵檢驗的完整解決方案。導入本系統能有效穩定產品品質、提高生產效率、提升良率、減低工時與人力成本，為客戶帶來實質的生產效益。

​技術優勢

• 增加品檢數量

過去，人力與品檢數量是相輔相成的，使用AIphaDIS瑕疵檢驗系統，檢測人員僅需針對系統所判定為瑕疵的元件，進行複判；同時也能將系統判定為正常的元件，進行二次抽檢確認，能用最少的人力執行全檢，達到最高的品質，以提升良率。

• 穩定一致的檢測標準

透過人工智慧進行瑕疵檢測，每次的判讀都會依照一定的標準進行，可有效避免因檢測人員經驗不同所造成的人力品檢疏失與誤差。且人工智慧可以快速且持久的進行品檢，減少因人員身體狀況而造成的品質落差。

• 實質提升檢測速度

透過人工智慧進行瑕疵檢測，耗時較人工檢測更短，且不會因疲累而降低檢測速度。以Chip外觀瑕疵檢測為例，人力檢測每顆Chip平均約需耗時5s，運用AlphaDIS進行檢測，每顆耗時為0.3s內，大幅提升檢測速度，增加生產效率。

• 持續學習的瑕疵判定分類機制

AlphaDIS瑕疵檢驗系統，具備人工智慧不斷學習的優勢，可以從錯誤中學習，提升瑕疵判定的準確率。此外，本系統也將瑕疵進行分類，幫助客戶釐清瑕疵產生的問題，以便於日後追蹤。隨著瑕疵種類的新增，學習新的分類和判斷機制進行品檢，穩定產出品質。

新瑕疵定義學習流程

瑕疵檢驗流程